Бесплатные калькуляторы

Примеры запросов: процентыипотекаплощадь✓ 7 074 работающих калькулятора

ДИФРАКЦИЯ И СПЕКТРАЛЬНАЯ ОПТИКА · ОНЛАЙН

Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий

Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий. Расчёт разрешающей способности дифракционной решётки рассчитывается с учётом набора реально необходимых параметров. Дифракционная решётка: sin θm − sin θi = mλ/(nd); R = mN, где N — число освещённых штрихов. Условия этой модификации — многопорядковая дифракция. Критерий Рэлея предполагает идеальную периодическую решётку и достаточную резкость штрихов; реальная оптическая схема ухудшает разрешение.

✓ Бесплатно⌁ С пояснением✦ Без регистрации
🔬
КАЛЬКУЛЯТОР

Введите данные

Длина волны в вакууме, нм. Учитывается в физической модели и показывается в итоговых показателях.
Длина второй спектральной линии, нм. Учитывается в физической модели и показывается в итоговых показателях.
Плотность штрихов решётки, штр/мм. Учитывается в физической модели и показывается в итоговых показателях.
Освещённая ширина решётки, мм. Учитывается в физической модели и показывается в итоговых показателях.
Порядок дифракции m. Учитывается в физической модели и показывается в итоговых показателях.
Угол падения, градусы. Учитывается в физической модели и показывается в итоговых показателях.
Мощность света на входе, мВт. Используется при расчёте потока или мощности.
Дополнительный порядок дифракции. Учитывается в физической модели и показывается в итоговых показателях.
✓ Исходные значения передаются серверу только для выполнения расчёта. Регистрация не нужна.
ВАШ РЕЗУЛЬТАТ✓ Вычислено

Дифракция и спектральная оптика — GPT-02-06

Первый спектральный угол, °22,824621
Второй спектральный угол, °23,291653
Угловое разделение линий, °0,467032
Число освещённых штрихов6 600
Теоретическая разрешающая способность6 600
Минимально разрешимая разница длин волн, нм0,090909
Можно различить линии по критерию Рэлея1
Мощность выбранного порядка, мВт100
Эффективная освещённая ширина, мм22
Доля ширины решётки внутри апертуры1
Угол следующего выбранного порядка, °34,60473

«Копировать картинку» помещает изображение результата в буфер обмена без сохранения файла — его можно сразу вставить в мессенджер или документ. Картинка и PDF содержат ссылку на calc-calc.ru.

Идеализированная инженерная модель. Проверяйте область применимости и условия измерения оптических характеристик.

Был ли калькулятор полезен?Одно касание — и мы поймём, какие инструменты улучшать.
ПОДРОБНЫЙ РАЗБОР · ФОРМУЛЫ И ПРИМЕРЫ

Метод расчёта: Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий

Задача «Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий» охватывает многопорядковая дифракция. Используется модель, в которой размеры, длины волн и другие величины входят в основное уравнение физического процесса. Два близких спектральных сигнала различимы по критерию Рэлея, если расстояние между их длинами волн превосходит предел λ/(mN). При рассмотрении нескольких порядков следует отделять положение спектрального максимума от его относительной интенсивности, которая задаётся формой освещённого отверстия.

Критерий Рэлея предполагает идеальную периодическую решётку и достаточную резкость штрихов; реальная оптическая схема ухудшает разрешение. Число реально освещённых штрихов зависит одновременно от периода решётки и размера освещённой области; суммарное число штрихов на всей пластине здесь не требуется. При рассмотрении нескольких порядков следует отделять положение спектрального максимума от его относительной интенсивности, которая задаётся формой освещённого отверстия.

Математическая модель

Дифракционная решётка: sin θm − sin θi = mλ/(nd); R = mN, где N — число освещённых штрихов. Два близких спектральных сигнала различимы по критерию Рэлея, если расстояние между их длинами волн превосходит предел λ/(mN). Расчёт для GPT-02-06-02 использует параметр «Длина волны в вакууме, нм» и условие «Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий».

Для воспроизводимости все необходимые величины вводятся независимо; изменение одного поля позволяет оценить влияние отдельного физического фактора. Число реально освещённых штрихов зависит одновременно от периода решётки и размера освещённой области; суммарное число штрихов на всей пластине здесь не требуется. Расчёт для GPT-02-06-02 использует параметр «Длина второй спектральной линии, нм» и условие «Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий».

Для направления «Расчёт разрешающей способности дифракционной решётки» используются идеализированные границы и заданные свойства материалов. При переходе к иному диапазону длин волн или геометрии следует пересчитать всю схему. Угловое положение линии получается из уравнения решётки при условии, что модуль синуса дифрагированного угла не превышает единицу. Расчёт для GPT-02-06-02 использует параметр «Плотность штрихов решётки, штр/мм» и условие «Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий».

Угловое положение линии получается из уравнения решётки при условии, что модуль синуса дифрагированного угла не превышает единицу. При рассмотрении нескольких порядков следует отделять положение спектрального максимума от его относительной интенсивности, которая задаётся формой освещённого отверстия. Учитывайте единицы для величин «Плотность штрихов решётки, штр/мм» и «Угол падения, градусы»: ошибка масштаба напрямую изменит оценку и может сделать сравнение двух вариантов бессмысленным.

Подготовка исходных данных

Необходимые параметры: Длина волны в вакууме, нм; Длина второй спектральной линии, нм; Плотность штрихов решётки, штр/мм; Освещённая ширина решётки, мм; Порядок дифракции m; Угол падения, градусы; Падающая интенсивность, Вт/м² (или мВт — для светового тракта); Дополнительный порядок дифракции. Число реально освещённых штрихов зависит одновременно от периода решётки и размера освещённой области; суммарное число штрихов на всей пластине здесь не требуется. Расчёт для GPT-02-06-02 использует параметр «Освещённая ширина решётки, мм» и условие «Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий».

Перед сравнением режимов следует убедиться, что входные значения соответствуют друг другу и описывают одну и ту же оптическую конфигурацию. Угловое положение линии получается из уравнения решётки при условии, что модуль синуса дифрагированного угла не превышает единицу. Расчёт для GPT-02-06-02 использует параметр «Порядок дифракции m» и условие «Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий».

Значения по умолчанию предназначены для проверки интерфейса, а не для описания конкретного прибора или материала. Необходимая спектральная разрешающая способность определяется отношением рабочей длины волны к расстоянию между линиями, а не мощностью осветителя. Расчёт для GPT-02-06-02 использует параметр «Угол падения, градусы» и условие «Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий».

Необходимая спектральная разрешающая способность определяется отношением рабочей длины волны к расстоянию между линиями, а не мощностью осветителя. При рассмотрении нескольких порядков следует отделять положение спектрального максимума от его относительной интенсивности, которая задаётся формой освещённого отверстия. Учитывайте единицы для величин «Освещённая ширина решётки, мм» и «Падающая интенсивность, Вт/м² (или мВт — для светового тракта)»: ошибка масштаба напрямую изменит оценку и может сделать сравнение двух вариантов бессмысленным.

Интерпретация выходных показателей

Смотрите на численные характеристики совместно: положение спектральной линии, интенсивность, угловое и линейное разрешение взаимосвязаны. Угловое положение линии получается из уравнения решётки при условии, что модуль синуса дифрагированного угла не превышает единицу. Расчёт для GPT-02-06-02 использует параметр «Падающая интенсивность, Вт/м² (или мВт — для светового тракта)» и условие «Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий».

Нулевая интенсивность на дифракционном минимуме или отсутствие разрешения может быть физически правильным результатом, а не ошибкой программы. Необходимая спектральная разрешающая способность определяется отношением рабочей длины волны к расстоянию между линиями, а не мощностью осветителя. Расчёт для GPT-02-06-02 использует параметр «Дополнительный порядок дифракции» и условие «Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий».

При работе с логарифмическими потерями нельзя складывать мощности в милливаттах и потери в децибелах без перевода единиц. Два близких спектральных сигнала различимы по критерию Рэлея, если расстояние между их длинами волн превосходит предел λ/(mN). Расчёт для GPT-02-06-02 использует параметр «Длина волны в вакууме, нм» и условие «Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий».

Два близких спектральных сигнала различимы по критерию Рэлея, если расстояние между их длинами волн превосходит предел λ/(mN). При рассмотрении нескольких порядков следует отделять положение спектрального максимума от его относительной интенсивности, которая задаётся формой освещённого отверстия. Учитывайте единицы для величин «Порядок дифракции m» и «Дополнительный порядок дифракции»: ошибка масштаба напрямую изменит оценку и может сделать сравнение двух вариантов бессмысленным.

Проверка применимости

Перед использованием результата важно проверить совместимость параметров с выбранной физической моделью. Необходимая спектральная разрешающая способность определяется отношением рабочей длины волны к расстоянию между линиями, а не мощностью осветителя. При рассмотрении нескольких порядков следует отделять положение спектрального максимума от его относительной интенсивности, которая задаётся формой освещённого отверстия. Необходимая спектральная разрешающая способность определяется отношением рабочей длины волны к расстоянию между линиями, а не мощностью осветителя. Расчёт для GPT-02-06-02 использует параметр «Длина второй спектральной линии, нм» и условие «Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий».

Оптические характеристики материалов меняются с температурой, длиной волны и структурой образца. Уточняйте их при количественном проектировании. Два близких спектральных сигнала различимы по критерию Рэлея, если расстояние между их длинами волн превосходит предел λ/(mN). Расчёт для GPT-02-06-02 использует параметр «Плотность штрихов решётки, штр/мм» и условие «Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий».

Эти предварительные инженерные оценки следует проверять по независимым измерениям, прежде чем применять для критичных систем. Число реально освещённых штрихов зависит одновременно от периода решётки и размера освещённой области; суммарное число штрихов на всей пластине здесь не требуется. Расчёт для GPT-02-06-02 использует параметр «Освещённая ширина решётки, мм» и условие «Проектирование дифракционной решётки для разделения двух близких спектральных линий».

Число реально освещённых штрихов зависит одновременно от периода решётки и размера освещённой области; суммарное число штрихов на всей пластине здесь не требуется. При рассмотрении нескольких порядков следует отделять положение спектрального максимума от его относительной интенсивности, которая задаётся формой освещённого отверстия. Учитывайте единицы для величин «Угол падения, градусы» и «Длина волны в вакууме, нм»: ошибка масштаба напрямую изменит оценку и может сделать сравнение двух вариантов бессмысленным.

Формула расчёта

ОСНОВНАЯ ФОРМУЛА

sin θm − sin θi = mλ/(nd); R = mN, где N — число освещённых штрихов.

Проверенные примеры

Пример 1: Исходная конфигурация

Исходные величины: Длина волны в вакууме, нм: 600; Длина второй спектральной линии, нм: 625; Плотность штрихов решётки, штр/мм: 300; Освещённая ширина решётки, мм: 22; Порядок дифракции m: 1; Угол падения, градусы: 12; Мощность света на входе, мВт: 100; Дополнительный порядок дифракции: 2.

Полученные характеристики: Первый спектральный угол, ° = 22.8246209636; Второй спектральный угол, ° = 23.2916526344; Угловое разделение линий, ° = 0.4670316708; Число освещённых штрихов = 6600; Теоретическая разрешающая способность = 6600.

Пример 2: Изменение поля «Длина волны в вакууме, нм»

Исходные величины: Длина волны в вакууме, нм: 666.0; Длина второй спектральной линии, нм: 625; Плотность штрихов решётки, штр/мм: 300; Освещённая ширина решётки, мм: 22; Порядок дифракции m: 1; Угол падения, градусы: 12; Мощность света на входе, мВт: 100; Дополнительный порядок дифракции: 2.

Полученные характеристики: Первый спектральный угол, ° = 24.0611676308; Второй спектральный угол, ° = 23.2916526344; Угловое разделение линий, ° = 0.7695149964; Число освещённых штрихов = 6600; Теоретическая разрешающая способность = 6600.

Пример 3: Изменение поля «Дополнительный порядок дифракции»

Исходные величины: Длина волны в вакууме, нм: 600; Длина второй спектральной линии, нм: 625; Плотность штрихов решётки, штр/мм: 300; Освещённая ширина решётки, мм: 22; Порядок дифракции m: 1; Угол падения, градусы: 12; Мощность света на входе, мВт: 100; Дополнительный порядок дифракции: 3.

Полученные характеристики: Первый спектральный угол, ° = 22.8246209636; Второй спектральный угол, ° = 23.2916526344; Угловое разделение линий, ° = 0.4670316708; Число освещённых штрихов = 6600; Теоретическая разрешающая способность = 6600.

Как пользоваться онлайн-калькулятором

  1. Задайте значения измеряемых величин в указанных единицах.
  2. Определите допустимые углы, спектральные параметры и размеры установки.
  3. Нажмите «Рассчитать» и сравните основные выходные показатели; при изменении конфигурации проверьте область применимости.
ВОПРОСЫ И ОТВЕТЫ

Частые вопросы

Почему расчёт может отклонить некоторые значения?

Для части комбинаций длины волны, порядка и направления дифрагированный луч физически не существует. Кроме того, модель учитывает ограничения параметров.

Можно ли использовать результат для реальной аппаратуры?

Для предварительной оценки — да, но требуются проверки калибровки измерительной системы, оптических констант материала и ограничений геометрии.

Похожие калькуляторы

🔭ОПТИКА

Аберрация первого порядка оптической системы — для внеосевого луча

Аберрация первого порядка оптической системы — для внеосевого луча. При настройке схемы «Аберрация первого порядка оптической системы — для внеосевого луча» сначала укажите радиус первой поверхности линзы, м, радиус второй поверхности линзы, м и централ

🔭ОПТИКА

Аберрация первого порядка оптической системы — для составной оптической системы

Аберрация первого порядка оптической системы — для составной оптической системы. При настройке схемы «Аберрация первого порядка оптической системы — для составной оптической системы» сначала укажите радиус первой поверхности линзы, м, радиус второй поверхности линзы

🔭ОПТИКА

Аберрация первого порядка оптической системы — при заданном спектральном диапазоне

Аберрация первого порядка оптической системы — при заданном спектральном диапазоне. При настройке схемы «Аберрация первого порядка оптической системы — при заданном спектральном диапазоне» сначала укажите радиус первой поверхности линзы, м, радиус второй поверхности ли

ПОДЕЛИТЬСЯ ИНСТРУМЕНТОМ

Встроить на свой сайт

Вставьте этот код в HTML-блок на своём сайте. Посетители смогут пользоваться калькулятором без перехода.

Прямая ссылка: https://calc-calc.ru/embed/calc_810202/

Предварительный просмотр